Defektoskop ultradźwiękowy

Dzięki opatentowanej przez Shimadzu technice obrazowania optycznego, nowy defektoskop MIV-X wykrywa wady na powierzchni i w obszarze przypowierzchniowym umożliwiając łatwą identyfikację pęknięć, pustych przestrzeni lub rozwarstwień i złuszczania, których normalnie nie można sprawdzić wizualnie.